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吸附分析儀器

簡要描述:XEMIS是一款高精度的吸附微量天平,用于環(huán)境下的精密測量。它可作為微量天平單獨(dú)使用,也可作為完整的吸附分析儀器。XEMIS有著出色的靈活性以及的稱量精度和穩(wěn)定性。

XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema*的外部感知技術(shù),可在高溫、高壓條件下進(jìn)行重量吸附分析,也可與其他商業(yè)化的吸附微量天平儀器聯(lián)用。

  • 產(chǎn)品型號:XEM
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2024-03-22
  • 訪  問  量:2194
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詳細(xì)介紹
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  XEMIS是一款高精度的吸附微量天平,用于環(huán)境下的精密測量。它可作為微量天平單獨(dú)使用,也可作為完整的吸附分析儀器。XEMIS有著出色的靈活性以及的稱量精度和穩(wěn)定性。 XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema*的外部感知技術(shù),可在高溫、高壓條件下進(jìn)行重量吸附分析,也可與其他商業(yè)化的吸附微量天平儀器聯(lián)用。

產(chǎn)品特點(diǎn)

  1. 外部感知技術(shù),把敏感元件置于天平室外部,允許腐蝕性和易燃?xì)怏w的操作

  2. 幾何對稱、精密設(shè)計(jì)的微量天平

  3. 內(nèi)部容積小化

  4. 大容量微量天平(5克),分辨率0.2μg和長期穩(wěn)定性±5μg

  5. 寬動(dòng)態(tài)稱量范圍(0-200毫克)

  6. 操作壓力高達(dá)200bar

  7. 單獨(dú)的反應(yīng)器可進(jìn)行從77 K到773 K的全溫度范圍測量

  8. 無需重新歸零或原位校準(zhǔn)

  9. 采用IGA*的終點(diǎn)預(yù)測方法

  10. 全金屬結(jié)構(gòu)由高品質(zhì)的VCR裝配

  11. 模塊化設(shè)計(jì),與所有配件兼容且可升級

 
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