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二次離子質譜儀

簡要描述:二次離子質譜儀適合做多層薄膜的深度分析,可以做元素成像和混合模式掃描,自動測量正、負和中性粒子。

  • 產品型號:SIMS Workstation
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2023-11-22
  • 訪  問  量:2917
詳細介紹
應用領域醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,生物產業(yè)

二次離子質譜儀
1. 適合做多層薄膜的深度分析。

2. 很好的、耐用的、普通目的的二次離子質譜儀

3. 方便使用。

4. 樣品可以手動轉換,由于分析速度快所以每天可以分析一定數(shù)量的樣品。

5. 我們的系統(tǒng)可配置快速原子槍,使我們可以輕松處理絕緣的樣品。

6. 我們還可以做元素成像(就象化學地圖)和混合模式掃描,自動測量正、負和中性粒子。

7. 我們的系統(tǒng)是典型的超高真空工作臺,很容易滿足很多其它分析的使用。 結構緊湊,但不損失性能。真正的高性價比。


高靈敏度脈沖離子計數(shù)檢測器,7個數(shù)量級的動態(tài)范圍
SIMS 成像,分辨率在微米以下
光柵控制,增強深度分析能力 
所有能量范圍內,離子行程的小擾動,及恒定離子傳輸
差式泵3級過濾四極桿,質量數(shù)范圍至1000amu 
靈敏度高 / 穩(wěn)定的脈沖離子計數(shù)檢測器
Penning規(guī)和互鎖裝置可提供過壓保護
通過RS232、RS485或Ethernet LAN,軟件 MASsoft控制

 
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